上海東時貿易有限公司回收各種進口二手儀器儀表 檢測儀器 網絡分析儀 示波器 廢舊儀器 工廠淘汰閑置儀器 研究所實驗室更新儀器 
     主要回收：Agilen安捷倫, Tektronix泰克, Anritsu安立, Litepoint美國, Spiren博世倫, ABO日本, KEITHILEY吉時利, YOKOGAWA橫河, KENWOOD建伍, KIKUSUI掬水,HAMEG惠美, HIOKI日置, IWATSU巖崎, FULK福祿克, LeCay力科, konica minolta美能達, Nitsuki, RIGOL普源,PRODIGIT博計,MARCONI馬可尼, Kyoritsu共立, SANWA三和, CON普康, RION理音, GRAPHTEC日圖, COSMOS新宇宙, ONOSOKKI小野, ARON安羅, TEXIO德士, EXTECH華儀, Anite安耐特, Maynuo美而諾, KEISOKU GIREN,計測 Kaise凱世, LEADER力達,Mitutoyo三豐…
主要回收類別：電源表，示波器，,觸摸屏,plc，服務器，硬盤，萬用表，功率計，頻率計，綜合測試儀，數據采集儀，濾波器，激光源，光衰減器，漣漪計，歐姆計，頻譜分析儀，網絡分析儀，三次元，硬度計，信號發(fā)生器，誤碼分析儀，藍牙測試儀，顯微鏡,型號板卡，GPIB卡，探頭，等各式進口二手儀器儀表
Agilent E5071C 8.5G射頻網絡分析儀 9kHz-8.5GHz
：安捷倫 Agilent
Agilent E5071C網絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結構通過減少掃描次數來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。
主要技術指標
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 
寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB（典型值） 
極快的測量速度：39 ms（進行完全雙端口校準，掃描1601點時） 
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時） 
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力 
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度：9.6微秒/點 
跡線噪聲：0.001 dB rms 
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力 
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換 
用于變頻設備的頻率偏置模式 
內置Visual Basic ? for Applications（VBA） 
測量向導助手軟件
主要特性與技術指標
 廣泛的動態(tài)范圍：在測試端口處具有 > 123 dB 的動態(tài)范圍（典型值）
極快的測量速度：全雙端口校準時為 41 ms，1601 點
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數測試裝置
端口選項：2 端口和 4 端口
平衡測量能力（4 端口選件）
頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）
內置 Visual Basic 應用程序設計語言（VBA）

Agilent 8753ET 傳輸或反射矢量網絡分析儀，300 kHz 至 6 GHz
主要特性與技術指標
300 kHz至3或6 GHz
高達110 dB的范圍
4個顯示通道
頻率和功率掃描
可選時域、諧波測量
描述
Keysight 8753ET矢量網絡分析儀能以低廉的售價評測射頻器件。Keysight 8753ET包括集成的合成源，測試裝置和調諧。內裝的傳輸或反射（T/R）測試裝置提供正向的全范圍幅度和相位測量。
300kHz 至 3 或 6 GHz
110 dB 范圍
4個顯示通道
頻率和功率掃描
可選時域、諧波測量
85031B Calibration Kit
85092C 射頻電子校準件（ECal）
85093C RF Electronic Calibration (ECal) Module
85096C RF Electronic Calibration (ECal) Module

gilent E8357A PNA 網絡分析儀，300 kHz 至 6 GHz
描述
Keysight ENA 和 PNA-L 系列網絡分析儀是推薦的替代產品。ENA 系列覆蓋 300 kHz 至 8.5 GHz 的頻率范圍，提供 2、3 和 4 端口型號。PNA-L 系列提供射頻 PNA 的關鍵特性，并與射頻 PNA 代碼兼容。PNA-L 系列覆蓋 300 kHz 至 50 GHz 的頻率范圍，提供 2 和 4 端口型號。

Agilent 8753D 網絡分析儀, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性與技術指標
內置S-參數測試儀
可選時域和掃描諧波測量
具有頻率偏置功能的混頻器測試
可選步進衰減器
可用于全部正向和反向測量的內裝S-參數測試裝置，使您能通過一次連接全面評測元件
優(yōu)異的精度，經過全面的校準
可選時域和掃描諧波測量
用頻率偏置能力作混頻器測試
可選步進衰減器，以擴展源輸出功率范圍
通過/失敗測試，內插誤差校正，測試序列和用戶定義測試頻率，以提高生產能力
2個立的顯示通道，以同時測量反射和傳輸特性
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